İçeriğe Atla Menüye Atla

 facekucuk twitterkucuk instagram icon GooglePlus linkedinkucuk

logo
İstanbul Uluslararası Buluş Fuarı - ISIF'18

 

 

PATENT PROFESYONELLİĞİNE GİRİŞ

Tarih: 04 Mart 2017

Zaman Dilimi: 09:30 - 17:00

Eğitmenler: Erdem KAYA - Uluslararası Patent Birliği Yönetim Kurulu Başkanı

HEDEF KİTLE: Yeni ürün geliştirenler, Şirket sahipleri, Ar-Ge Mühendisleri, Ür-Ge Mühendisleri, Şirketlerin Marka-Patent süreçlerini yürüten çalışanlar

EĞİTİM İÇERİĞİ

TEMEL PATENT KAVRAMLARI ÖZET

  • PATENT - FAYDALI MODEL KAVRAMI
  • PATENTLENEBİLİRLİK KRİTERLERİ
  • ÇALIŞAN BULUŞU KAVRAMI
  • TESCİL SÜREÇLERİNE DETAY BAKIŞ
  • YANLIŞ BİLİNENLER - TAVSİYELER

PATENT YAZIM TEKNİKLERİ

  • BULUŞ BİLGİSİNİ DOĞRU ALMA
  • TARİFNAMENİN BÖLÜMLERİ
  • İSTEMLERİN GENEL MANTIĞI
  • PATENT TARİFNAMESİ NASIL HAZIRLANIR
  • İSTEM YAZIM TEKNİKLERİ
  • PATENT YAZIM KALİTESİNİ ÖLÇME

PATENT ARAŞTIRMASI VE SONUÇLARI ÇÖZÜMLEME

  • NEDEN GEREKLİ?
  • PATENT SINIFLARI
  • PATENT ARAŞTIRMA VERİTABANLARI
  • TEMEL ARAŞTIRMA STRATEJİLERİ
  • ARAŞTIRMA SONUÇLARINI İNCELEME
  • PATENTİ KISA SÜREDE ÇÖZÜMLEME
  • PATENT KORUMA KAPSAMI TESPİTİ

PATENT İHLAL ANALİZLERİ

  • PATENT İHLAL HUKUKU
  • KORUYUCU MEKTUP KAVRAMI
  • PATENT İHLALİNİN SONUÇLARI
  • EŞDEĞERLER DOKTRİNİ
  • FTO RAPORU NASIL HAZIRLANIR?
  • PATENTİN ETRAFINDA DOLAŞMA (DESIGN AROUND)

ARGE’Yİ DESTEKLEYİCİ DİĞER PATENT HİZMETLERİ

  • TEKNİĞİN BİLİNEN DURUMUNU BELİRLEME
  • TEKNOLOJİ-RAKİP TAKİBİ
  • TREND BELİRLEME
  • PATENT HARİTALAMA

PATENTLENEBİLİRLİK ANALİZİ

  • TEKNİK OLMA KAVRAMI
  • YENİLİK KRİTERİ DETAY ANALİZİ
  • BULUŞ BASAMAĞI KRITERI DETAY ANALIZI
  • PROBLEM-SOLUTION YAKLAŞIMI
  • OBJEKTİF TEKNİK PROBLEMİ BELİRLEME
  • TEKNİKTE UZMAN KİŞİ - COULD-WOULD YAKLAŞIMI

UPB

KAYITLARIMIZ KAPANMIŞTIR. İLGİNİZE TEŞEKKÜR EDERİZ.